• 美国推出新型等离子发射光谱仪
  • 发布时间:2018-07-23 17:02 | 作者:采集侠 | 来源:网络整理 | 浏览:
  • 自美国瓦里安公司推出了当今分析速度最快的全谱直读电感耦合等离子体发射光谱V ista P ro以来,由于IC P制造技术上的优势,使得该公司IC P的市场占有率急剧提高,成为名列前茅的重要生产厂商。 作为高性能的研究级仪器V ista P ro的心脏,V ista C h ip C C D检测器是由该公司工厂的光学部和半导体部成立专门项目组历经4年的潜心研究联合开发的结果。随着C C D检测器制造技术的提高,公司又把超过百万个感光点(P ix e ls)的C C D固体检测器成功地应用于IC P的制造上,推出适用于材料工业、化学工业和环保领域的新一代IC P V ista M PX,它除继承V ista P ro分析速度快、线性范围宽等基本特点外,更加经济和实用。 高分辨率的中阶梯光栅交叉色散光学系统。台式集成化的密封中阶梯光栅单色器,整个光路中无可移动部件,无需外加校正波长灯,恒温在35度,所以系统极其稳定。中阶梯光栅结合氟化鲈棱镜组成交叉色散系统。在保证高分辨率的同时保证了光通量,得到极高的检测灵敏度和分析精度。用高速的双权电子光闸保护前置光路以及开始和启动积分过程,自动调节积分时间。 超过百万个感光点的C C D固体检测器。V ista M PX所有的C C D检测器具有1.12m illio n个有效感光点,它系设计成超薄型的背面入射的型式,连续覆盖175~785m m整个波长范围。在紫外区具有非常高的灵敏度。 独一无二的冷锥接口技术。V ista的水平炬管式IC P采用了专利设计的冷锥接口(C C I)技术,有效地消除了轴向观察方式中低温尾焰带来的干扰,可以直接分析复杂样品,如有机物和高盐含量的样品。  它具有高效的R F射频发生系统,具有多重检量线系统,方便、灵活的高智能化操作软件和全自动控制,整台仪器为计算机全自动化控制。它还具有FAC T快速自动谱线拟合功能。 V ista的FAC T技术提供了实时的谱线干扰校正方法。该技术实现在线解谱,准确、实时地扣除谱线干扰,进行快速、简便的干扰校正。该方法与被测物和干扰物的浓度无关,并且同时进行背景校正,是IC P谱线干扰校正的理想技术。 V ista M PX作为世界上第一台超过百万感光点C C D检测器的真正全谱直读等离子发射光谱仪具有非常快的分析速度(5分钟测一个样品),而且通过一次测定,就可以把样品中的所有元素的谱线(不论是紫外区或可见区,全部记录下来),而且可以同时得到常量组分和痕量组分的结果。(来源:)

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